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DualBeam FEI Scios
- REM-FIB Gerät für 3-dim. Untersuchungen
- EDAX-Analytik mit EDX, WDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen
- in-situ Zug-Druckprüfung bis 5kN
- in-situ Heiztisch bis 1000°C
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Rasterelektronenmikroskop FEI XL30
- FEG-Kathoden REM
- EDAX-Analytik mit EDX und EBSD für chemische Analysen und kristallographische Untersuchungen
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Rasterelektronenmikroskop Zeiss EVO 15
- Rasterelektronenmikroskop mit EDX zur Materialcharakterisierung
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Sputteranlage Quorum Q150T ES
- Sputteranlage zur REM-Präparation nicht-leitfähiger Proben
- Targetmaterialien: Chrom, Platin, Tantal, Titan
- Gas: Argon
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Sputteranlage Emitech K550
- Sputteranlage zur REM-Präparation nicht-leitfähiger Proben
- Targetmaterial: Gold
- Gas: Argon
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Automatischer Mikrohärteprüfer Buehler VH3300
- Mikrohärteprüfung nach Vickers
- automatischer Wechselrevolver, Vergrößerungen: 5fach bis 200fach
- 4-fach Probenspannvorrichtung (Probendurchmesser: 20/30 mm)
- Messbereich: HV0,01 - HV5
- Auswertesoftware: DiaMet
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Experimentelles Labor für Materialanalyseverfahren
- Neu- und Weiterentwicklung von mikroskopischen und materialanalytischen Verfahren
- Entwicklung und Test von Röntgenquellen für Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
- abbildende Röntgenverfahren
- Röntgenspektroskopie
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